在目前的系统级芯片（SoC）中，嵌入式存储器占据的硅片面积越来越大，同时内建自测（Bist: Built-in self-test）也成了测试这些片内存储器的主要手段。本文结合实际SoC设计，从存在必要性、测试算法的选择等角度论述内建自测方法。更为重要的是，文章从SoC顶层设计的角度出发，考虑其他IP模块的可测性设计，给出了全局性的设计建议，希望能够给从事相关工作的工程师带来帮助。

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